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◆生产厂商:德国布鲁克
◆设备型号:DEKTAK XT
◆技术参数:扫描长度 50um~55mm;垂直测量范围 1mm;台阶高度重现性5Å, 1σ 在1um台阶上;垂直分辨率最大1Å(6.5um范围);探针压力:1~15mg,最小可达0.03mg;探针曲率半径0.2~25um。
◆样品要求:平面样,粗糙度小于625um。
◆主要特点:可创建任意区域的2D曲线图或2D等高线分布图,可创建任意区域的3D图像;自动得到样品的一维线粗糙度参数(Ra,Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Rq,Rsk,Rku)及二维面粗糙度(Sa,Sp,Sq,Sv,Sz,Ssk,Sku);可得到样品的平整度,波纹度等参数。
◆应用领域:固体表面的微观尺寸测量,如长度、宽度、角度、深度、台阶高度等;可测孔洞或磨痕的磨损面积,磨损体积等参数。